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電気測定機器、電気器具

項目一覧

お客様ご自身が使用して、試作・分析を行える機器は 『機器利用』欄にご利用OKがつけてあります。

機器名用途担当機器利用
EMI測定システム

電子機器から発生する電磁ノイズ測定(伝導・放射)/微弱電波測定/アンテナ指向性測定

電子技術部 ご利用OK
LCRメータ

インダクタンス、キャパシタンス、抵抗の測定

電子技術部  
アンテナ位置制御システム

電界分布測定を行うためにアンテナ(電界センサー)を移動させる/放射電磁界イミュニティ試験システムの補助装置

電子技術部  
オシロスコープ

波形観察

電子技術部 ご利用OK
スペクトラムアナライザ(システム)

電磁雑音簡易測定/ノイズ対策

電子技術部 ご利用OK
ホール測定装置

比抵抗の測定/ホール係数の測定/キャリア濃度の測定/ホール移動度の測定

電子技術部  
マイクロ波ネットワークアナライザ測定システム

高速電気信号の伝送・反射特性測定(特性インピーダンス、減衰量、Sパラメータなど)/マイクロ波帯の誘電率・透磁率測定/電波吸収率測定/アンテナ特性測定

電子技術部  
マイクロ波信号発生器

マイクロ波測定の基準信号源/アンテナ測定

電子技術部  
伝導イミュニティ試験システム

電子機器の静電気放電,ファースト・トランジェント・バーストノイズ,雷サージ,インパルスノイズに対する耐性(イミュニティ)試験

電子技術部 ご利用OK
半導体パラメータアナライザ

半導体デバイスのI-V測定/準静的C-V測定

電子技術部  
放射・伝導電磁界イミュニティ測定システム

電子機器の無線周波数における放射及び伝導電磁界に対する耐性(イミュニティ)試験

電子技術部 ご利用OK
耐電圧試験機

絶縁耐力評価

電子技術部  
電子デバイスパラメータ測定システム

半導体デバイスの電気パラメータの測定/半導体デバイスのC-V測定(1MHz)

電子技術部  
電子回路測定・解析システム用ネットワークアナライザー

Sパラメータ測定/インピーダンス測定/伝送・反射特性

電子技術部 ご利用OK

関連タグ

 電子技術部   電気測定機器、電気器具   機械・材料技術部