ゼータ電位・粒径分布測定システム | 神奈川県産業技術センター
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更新日:2016.01.08

ゼータ電位・粒径分布測定システム

お客様ご自身が使用して、試作・分析を行える機器は 『利用の仕方』欄にご利用OKがつけてあります。

ゼータ電位・粒径分布測定システム、大塚電子 ELS Z-2、レーザードップラー法、動的光散乱法 (DLS)

 

 
項目 内容
機器名 ゼータ電位・粒径分布測定システム
利用の仕方  
使用料No  
分類 試験・計測機器
担当 機械・材料技術部
仕様 ゼータ電位 : レーザードップラー法/ゼータ電位範囲 -200~200 mV/対象 微粒子および平板・フィルム ; 粒径分布 : 動的光散乱法(光子相関法)/粒子径範囲 0.6 nm~7μm/対象 微粒子 ; 共通仕様 : 温度 10~90℃/対応濃度 0.001~40 %
用途 レーザードップラー法によるゼータ電位測定と、動的光散乱(DLS)法による湿式粒径分布測定を、1台で行える装置です。ただし、ゼータ電位と粒径分布を同時に測定することはできません。ゼータ電位は、溶液に分散した微粒子と平板形状試料の2種類に対応できます。粒径分布は、1マイクロメートル~ナノサイズ領域における平均粒径値の高い測定精度が特徴です。
手数料No
/試験名
4160ゼータ電位測定(A)(微粒子分散溶液)
4170
ゼータ電位測定(B)(平板形状試料) 
4180粒径分布測定(動的光散乱法)
製造社名 大塚電子(株)
規格 ELSZ-2
導入年度 平成20年度

  • 「使用料」とはご利用OKのついた機器をご使用いただいたときの料金です。ご利用OKのある機器でも、使用条件によって料金が変わる場合は空欄となっています。そのような機器の使用料は、お問い合わせ下さい。
  • 「手数料」とは当センター職員がお客様のご依頼を受けて試験等を実施する場合の料金です。この他にオーダーメードでもお受けできます。
  • 「試験名」とは当機器を利用して行う試験等の名称で、クリックすると詳細説明がご覧になれます。




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