走査電子顕微鏡 | 神奈川県産業技術センター
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更新日:2014.03.31

走査電子顕微鏡

お客様ご自身が使用して、試作・分析を行える機器は 『利用の仕方』欄にご利用OKがつけてあります。

走査電子顕微鏡、FE-SEM、SEM-EBSD、表面観察、破面観察

 

 
項目 内容
機器名 走査電子顕微鏡
利用の仕方  
使用料No  
分類 表面・内部観察機器
担当 機械・材料技術部
仕様 ショットキー型電解放射銃、加速電圧:0.2~30.0kV、二次電子分解能:1.5nm(加速電圧:10kV)2.5nm(加速電圧:1kV)3.5nm(加速電圧:500V)、ステージ50*50mm
用途 金属材料/無機材料/複合材料の表面形状などの観察/破面観察/結晶方位の測定(EBSP)
手数料No
/試験名
0010 走査電子顕微鏡写真撮影 / 0020 走査電子顕微鏡写真撮影 1ヶ所増
製造社名 エフイー・アイ
規格 XL-30Sirion
導入年度 平成14年度

  • 「使用料」とはご利用OKのついた機器をご使用いただいたときの料金です。ご利用OKのある機器でも、使用条件によって料金が変わる場合は空欄となっています。そのような機器の使用料は、お問い合わせ下さい。
  • 「手数料」とは当センター職員がお客様のご依頼を受けて試験等を実施する場合の料金です。この他にオーダーメードでもお受けできます。
  • 「試験名」とは当機器を利用して行う試験等の名称で、クリックすると詳細説明がご覧になれます。




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