走査電子顕微鏡(低真空対応SEM) | 神奈川県産業技術センター
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更新日:2014.03.31

走査電子顕微鏡(低真空対応SEM)

お客様ご自身が使用して、試作・分析を行える機器は 『利用の仕方』欄にご利用OKがつけてあります。

走査電子顕微鏡(低真空対応SEM)、wet-SEM、非導電性材料

 

 
項目 内容
機器名 走査電子顕微鏡(低真空対応SEM)
利用の仕方  
使用料No  
分類 表面・内部観察機器
担当 機械・材料技術部
仕様 Wフィラメント型、加速電圧:1~30.0kV、分解能:3nm(加速電圧:30kV) 15nm(加速電圧:1kV)、ステージ80*40mm、低真空機能
用途 樹脂材料や生物、リチウムイオン電池用部材、機械部品の表面状態を観察し、試料状態の評価やトラブル解決のために用いる。
手数料No
/試験名
0010 走査電子顕微鏡写真撮影 / 0020 走査電子顕微鏡写真撮影 1ヶ所増
製造社名 日本電子株式会社
規格 JSM-6510LV
導入年度 平成20年度

  • 「使用料」とはご利用OKのついた機器をご使用いただいたときの料金です。ご利用OKのある機器でも、使用条件によって料金が変わる場合は空欄となっています。そのような機器の使用料は、お問い合わせ下さい。
  • 「手数料」とは当センター職員がお客様のご依頼を受けて試験等を実施する場合の料金です。この他にオーダーメードでもお受けできます。
  • 「試験名」とは当機器を利用して行う試験等の名称で、クリックすると詳細説明がご覧になれます。




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