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材料や異物等の材質、成分、元素の分析/対象別分析/無機定性分析


試験名内容
蛍光X線法による微小部定性分析

蛍光X線エネルギー分散分光法(EDX)による試料微小部等の定性分析

試料調製(1)(切粉作成等)

化学分析試料の簡易な前処理、試験試料の作成

蛍光X線法による定性分析

蛍光X線波長分散分光法(WDX)による一定面積の定性分析

X線光電子分光分析(B) 深さ方向分析

固体の極表面の元素組成及び化学状態の分析

X線光電子分光分析(B) 表面分析

固体の表面から数百nmまでの元素組成及び化学状態の分析

ICP発光分光分析法による定性分析(基本15元素)

ICP発光分光分析法による溶液試料の定性分析

試料調製(2)(難分解試料処理、残渣処理等)

化学分析試料の比較的複雑な前処理、試験試料の作成

試料調製(3)(微量分析対応の分離濃縮処理等)

微量分析に対応した分離濃縮等の複雑な前処理

試料調製(4)(マイクロウェーブ分解等)

化学分析試料の前処理、試験試料の作成(普通)

X線回折試験

X線回折法による試料の結晶解析、スペクトル検索同定。逆格子マッピングや薄膜法、反射率測定。

電子線マイクロアナライザ観測
電子線マイクロアナライザ観測 試料調整
電子スピン共鳴分析(A) (基本測定)

電子スピン共鳴法(ESR)による、材料中のラジカル等の不対電子の状態分析

電子スピン共鳴分析(B) (特殊測定・定量)

ESR/不対電子の分析と定量/温度可変測定/スピントラップ/光照射測定