X線光電子分光分析(B) 表面分析 | 神奈川県産業技術センター
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更新日:2016.01.28

X線光電子分光分析(B) 表面分析

X線光電子分光分析(B) 表面分析、表面局所分析

 
項目 内容
試験名 X線光電子分光分析(B) 表面分析
手数料No 1880
分類  
内容 固体の表面から数百nmまでの元素組成及び化学状態の分析
補足説明  
使用機器例 X線光電子分光分析装置
試験対象 固体
備考 1試料、1ヶ所につき
担当 機械・材料技術部

  • 「使用機器例」とは当試験のために使用する機器の名称で、クリックすると詳細説明がご覧になれます。
  • 「手数料」とは当センター職員がお客様のご依頼を受けて試験等を実施する場合の料金です。
  • この他にオーダーメードでもお受けできます。




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