X線回折試験 | 神奈川県産業技術センター
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更新日:2015.08.18

X線回折試験

X線回折試験,XRD,結晶構造解析

 
項目 内容
試験名 X線回折試験
手数料No 2510, 2520, 2530
分類
内容 X線回折法による試料の結晶構造解析、スペクトル検索同定が可能です。薄膜X線装置では逆格子マッピングや薄膜法、反射率測定が可能です。
補足説明 試料形態等による分析装置を選択します。
使用機器例 粉末用X線回折装置
薄膜用X線回折装置
試験対象 粉末又は薄膜試料、無機材料・化合物、有機材料、複合素材
備考 1試料1スペクトルにつき
担当 電子技術部、化学技術部

  • 「使用機器例」とは当試験のために使用する機器の名称で、クリックすると詳細説明がご覧になれます。
  • 「手数料」とは当センター職員がお客様のご依頼を受けて試験等を実施する場合の料金です。
  • この他にオーダーメードでもお受けできます。




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