電子線マイクロアナライザ観測 | 神奈川県産業技術センター
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更新日:2016.01.28

電子線マイクロアナライザ観測

電子線マイクロアナライザ観測(FE-EPMA:Field Emission Electron Probe Micro Analyzer)、電界放出型電子線マイクロアナライザ、表面局所分析

 
項目 内容
試験名 電子線マイクロアナライザ観測
手数料No 25412551
分類 材料や異物等の材質、成分、元素の分析/対象別分析/無機定性分析、
材料や異物等の材質、成分、元素の分析/機器分析/表面分析等
内容 細く絞った電子線を固体表面に照射することにより、微小領域(10μm~数mm程度)の元素分析ができます。変色や腐食・破壊等の不具合箇所における介在物・析出物・異物等の構成元素を分析します。
補足説明 B(ホウ素)~U(ウラン)までの微小部分析。試料寸法は、φ30mm×10mm以下。試験内容によりNo.2551を加算。
使用機器例 FE-EPMA
試験対象 金属材料、セラミックス材料、他
備考 1試料につき
担当 機械・材料技術部

  • 「使用機器例」とは当試験のために使用する機器の名称で、クリックすると詳細説明がご覧になれます。
  • 「手数料」とは当センター職員がお客様のご依頼を受けて試験等を実施する場合の料金です。
  • この他にオーダーメードでもお受けできます。




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