走査電子顕微鏡写真撮影 | 神奈川県産業技術センター
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更新日:2016.01.09

走査電子顕微鏡写真撮影

走査電子顕微鏡写真撮影(SEM:Scanning Electron Microscope)

 
項目 内容
試験名 走査電子顕微鏡写真撮影
手数料No 00100020
分類 工業材料や部品の強さ、硬さ、耐久性等/金属材料・構造物等/金属組織、外観観察等
内容 材料および機械部品の表面ならびに破壊面の観察
補足説明 例1)破損した機械部品の破壊面観察による原因調査、例2)加工した表面の観察
使用機器例 走査電子顕微鏡(SEM)
試験対象 各種材料および機械部品
備考 1試料、写真1枚につき
担当 機械・材料技術部

  • 「使用機器例」とは当試験のために使用する機器の名称で、クリックすると詳細説明がご覧になれます。
  • 「手数料」とは当センター職員がお客様のご依頼を受けて試験等を実施する場合の料金です。
  • この他にオーダーメードでもお受けできます。




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