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機械装置、電気・電子部品等の性能評価試験

分類・区分

分類区分
電気・電子関係の試験 電気・電子の試験  磁気関係の試験  半導体関係の試験  環境試験  電磁波ノイズ試験  その他の試験 
産業用ネットワーク関連 FL-net(OPCN-2)ネットワーク認証試験  CC-Link適合性評価試験 
形状測定・電気計測等 精密測定  EMC測定  非破壊検査 
その他 振動・騒音測定  機械設計・解析 

機械装置、電気・電子部品等の性能評価試験

X線透過試験 X線CTスキャン ハードウェア試験
高速度カメラ撮影(アナログ波形データ収集装置併用) 高速度カメラ撮影 適合性試験
相互接続性試験 ノイズ試験 ソフトウェア試験
組み合わせ試験 エージング試験 雑音電力測定
放射妨害波測定 電源・通信ポート伝導妨害波測定 恒温恒湿槽(中)
恒温恒湿槽(中)サイクル 高温槽 プレッシャークッカー試験
電気抵抗測定 電気機器・漏れ電流測定 電気機器・耐電圧試験
電気機器・接地回路の抵抗測定 LCR測定 デジタルオシロスコープ測定
電気機器・漏れ電流測定(DC) 絶縁抵抗試験 電気機器・温度試験
ネットワークアナライザ測定 電源変動及び瞬停試験 電気機器・電力測定
マイクロ波誘電率測定(共振器法・誘電体プローブ法) マイクロ波誘電率・透磁率測定(Sパラメータ法) 電流電圧測定(1mA以上、1mV以上)
車載機器の放射・伝導妨害波測定 放射電磁界イミュニティ試験 静電気放電イミュニティ試験
電気的ファストトランジェント/バーストイミュニティ試験 雷サージイミュニティ試験 伝導電磁界イミュニティ試験
インパルスノイズ試験 電磁波シールド効果測定 電磁波吸収率測定(簡易アンテナ法)
アンテナ指向性測定 フォトルミネッセンス測定 高分解能(1nm以下)フォトルミネッセンス測定
低温光特性評価 ホール効果測定 薄膜屈折率測定
走査型プローブ顕微鏡観察 定エネルギー分光測定 膜厚測定
三次元微細形状測定 位相差測定 酸化拡散試験
超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定 超音波ウェッジボンダ試験 超音波ボールボンダ試験
ダイシング加工(半導体基板精密加工) 真空蒸着 スパッタ成膜
イオンプレーティング成膜 アッシャーによるプラズマ処理 ECRプラズマエッチング
高精度リソグラフィ ワイヤーボンディング強度試験 ダイシェア試験
磁化特性測定(VSM方式) 磁化特性測定(BH積分方式) 磁化温度特性測定
交流磁化特性測定 電流電圧測定(1mA以下,1mV以下) 光干渉式膜厚測定
機械設計・解析 デジタル画像解析 三次元モデリング(簡易なもの)
構造解析 振動試験 損失係数測定
時間波形分析(音) 周波数分析(音) 音響パワーレベル測定
音圧分布測定 音質評価解析 吸音率測定
時間波形分析(振動) 周波数分析(振動) 騒音測定
オクターブ分析 冷熱サイクル試験 スペクトラムアナライザ測定
高周波伝送特性測定(Sパラメータ・TDR測定) 三次元座標測定 表面粗さ測定(A) 簡単な形状
表面粗さ測定(B) 複雑な形状