走査型プローブ顕微鏡観察 | 神奈川県産業技術センター
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更新日:2015.08.17

走査型プローブ顕微鏡観察

走査型プローブ顕微鏡観察、SPM、原子間力顕微鏡、AFM

 
項目 内容
試験名 走査型プローブ顕微鏡観察
手数料No  1780
分類  機械装置、電気・電子部品等の性能評価試験/電気・電子関係の試験/その他の試験
内容 走査プローブ顕微鏡(SPM)は先端サイズがナノスケール程度のプローブを試料表面に接近させ、プローブ先端と試料間との相互作用を制御することにより形状、その他の特性を計測します。
補足説明
使用機器例
試験対象 電子材料
備考 標準1条件1測定につき
担当 電子技術部

  • 「使用機器例」とは当試験のために使用する機器の名称で、クリックすると詳細説明がご覧になれます。
  • 「手数料」とは当センター職員がお客様のご依頼を受けて試験等を実施する場合の料金です。
  • この他にオーダーメードでもお受けできます。




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