手数料及び使用料表(平成26年度) | 神奈川県産業技術センター
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更新日:2014.04.01

手数料及び使用料表(平成26年度)

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手数料表(PDFはこちらから

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金属材料・部品の試験

No.

項目

単位

手数料

担当部名

0010

走査電子顕微鏡写真撮影

1試料につき(写真1枚につき)

23,120

機械・材料技術部

0020

走査電子顕微鏡写真撮影 1ヶ所増

同一試料で1ヶ所増すごとに (写真1枚につき)

5,850

0021

元素分析(No.0010,0020に適用)

1ヶ所につき

6,460

0031

金属組織写真撮影

写真1枚につき

9,530

0040

写真焼増し

写真1枚につき

320

0050

外観写真撮影

写真1枚につき

4,600

0060

マクロ組織写真

写真1枚につき

6,810

0070

写真撮影(No.0031,0050,0060に適用)

同一試料で1ヶ所増すごとに

2,570

0080

顕微鏡試料調整(1) (容易なもの)

1試料につき

1,710

0090

顕微鏡試料調整(2)(比較的複雑なもの)

1試料につき

3,460

0110

引張・圧縮・曲げ試験(1)(簡単な試験)

1試料1条件につき

2,280

0120

引張・圧縮・曲げ試験(2)(比較的簡単な試験)

1試料1条件につき

3,830

0130

引張・圧縮・曲げ試験(3)(標準的な試験)

1試料1条件につき

5,130

0140

引張・圧縮・曲げ試験(4)(やや複雑な試験)

1試料1条件につき

6,530

0150

引張・圧縮・曲げ試験(5)(複雑な試験)

1試料1条件につき

9,090

0160

大型構造物強度試験(1)(簡単な試験)

1試料1条件につき

7,490

0165

大型構造物強度試験(2)(標準的な試験)

1試料1条件につき

12,300

0170

大型構造物強度試験(3)(複雑な試験)

1試料1条件につき

19,790

0180

硬さ試験

1点につき

910

0191

薄膜・微小部硬さ試験

1試料1ヶ所につき

19,980

0192

薄膜・微小部硬さ試験 1ヶ所増

1ヶ所増すごとに

9,320

0210

摩耗試験

1試料につき

5,860

0211

トライボ試験

1試料1条件につき

6,970

0212

トライボ試験 1件増

1条件増すごとに

3,210

0220

三次元座標測定

1試料1時間につき

14,680

0240

表面粗さ測定(A)(簡単な形状)

1試料1ヶ所につき

1,190

0250

表面粗さ測定(B)(複雑な形状)

1試料1ヶ所につき

2,600

0270

工具寿命試験

1試料1項目につき(バイト被削材は持ち込み)

14,030

0280

流れ特性試験(キャピログラフ)

1試料1条件につき

3,870

0290

X線残留応力測定

1試料1方向につき

5,190

0310

切削抵抗測定

1項目につき(バイト被削材は持ち込み)

10,270

0320

熱膨脹測定

1試料につき

15,300

0360

アルゴンアーク溶解試験

1時間当たり

6,180

0361

真空溶解試験

1時間当たり

8,010

0370

レーザーフラッシュ法による熱伝導率測定

1試料につき

22,810

0415

疲労試験 1時間以内

1試料1条件につき

5,340

0420

疲労試験 8時間以内

1試料1条件につき

14,890

0431

疲労試験 大型構造物 8時間以内

1試料1条件につき

19,350

0435

疲労試験 8時間増(No.0420,0431に適用)

8時間を超えて8時間増すごとに

6,200

0440

熱間加工性試験

1試料につき

7,040

0450

NC放電加工試験

1時間につき

2,160

0460

ホットプレス処理

1時間当たり

7,190

0470

HIP処理

1時間当たり

16,560

0480

熱処理特性試験

1時間当たり

11,550

 電気・電子の試験

No.

項目

単位

手数料

担当部名

0510

電流電圧測定(1mA以上,1mV以上)

1試料1条件につき

2,850

電子技術部

0520

電流電圧測定(1mA以上,1mV以上)

1試料につき測定点1ヶ所増すごとに

1,420

0530

電流電圧測定(1mA以下,1mV以下)

1試料1条件につき

4,660

0540

電流電圧測定(1mA以下,1mV以下)

1試料につき測定点1ヶ所増すごとに

2,330

0570

電気抵抗測定

1試料1条件につき

3,330

0580

電気抵抗測定 1ヶ所増

1試料につき測定点1ヶ所増すごとに

1,640

0660

電気機器・漏れ電流測定

1条件1測定につき

4,160

0670

電気機器・耐電圧試験

1試料1測定につき

4,450

0675

電気機器・耐電圧試験 1件増

同一試料1測定増すごとに

1,480

0680

電気機器・接地回路の抵抗測定

1条件1測定につき

4,280

0690

LCR測定

1試料1条件につき

8,500

0710

LCR測定 1ヶ所増

1試料につき測定点1ヶ所増すごとに

2,830

0721

デジタルオシロスコープ測定

1試料1条件につき

5,050

0740

電気機器・漏れ電流測定(DC)

1条件1測定につき

3,150

0750

絶縁抵抗試験

1条件1測定につき

4,260

0760

電気機器・温度試験

1測定点につき

2,560

0761

はんだ継手強度試験

1測定条件につき(10測定点まで)

17,160

0762

はんだ継手強度試験 5増

5測定点増すごとに

7,750

0790

ネットワークアナライザ測定

1試料1条件につき

6,320

0810

ネットワークアナライザ測定 1件増

1条件増すごとに

2,690

0811

スペクトラムアナライザ測定

1試料1条件につき

5,960

0812

スペクトラムアナライザ測定 1件増

1条件増すごとに

2,480

0813

電源変動および瞬停試験

1条件につき

10,430

0814

電源変動および瞬停試験 1件増

1条件増すごとに

5,210

0820

電気機器・電力測定

1試料1条件につき

4,770

0830

高周波伝送特性測定(Sパラメータ・TDR測定)

1条件1測定につき

13,860

0840

高周波伝送特性測定(Sパラメータ・TDR測定) 1件増

1測定増すごとに

3,640

0850

マイクロ波誘電率測定(共振器法・誘電体プローブ法)

1条件1測定につき

16,700

0860

マイクロ波誘電率測定(共振器法・誘電体プローブ法) 1件増

1測定増すごとに

5,570

0870

マイクロ波誘電率・透磁率測定(Sパラメータ法)

1条件1測定につき

15,330

0880

マイクロ波誘電率・透磁率測定(Sパラメータ法) 1件増

1測定増すごとに

4,200




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