分析技術フォーラム X線を用いた非破壊分析でわかること 2月28日(水)

 時下、ますますご清栄のこととお喜び申し上げます。また、日頃から当研究所の事業にご協力いただき感謝申しあげます。

 当研究所では産学公の研究者、技術者等の交流と技術移転等を積極的に推進するため、技術交流フォーラムを開催しております。

 このたび、「X線を用いた非破壊分析で分かること」と題した分析技術フォーラムを開催する運びになりましたので、次のとおりご案内させていただきます。

 このフォーラムでは本年度に「地域未来投資の活性化のための基盤強化事業(経済産業省)」により導入しました「水平型多目的X線回折装置」をはじめとした新規導入装置の紹介とX線を用いた非破壊分析技術についてご説明させていただきます。

 皆様の積極的なご参加をお待ちしております。

開催要項

日時 2018年2月28日(水) 13時50分〜16時45分
場所 神奈川県立産業技術総合研究所(海老名市下今泉705-1)
募集人数 30名 (定員となり次第締切、参加費無料)
申込方法

参加申込みフォームへ必要事項を記載のうえ、送信してください。
・事前申込締め切りは、2月21日(水) です。
ご参加いただけない場合のみ、ご連絡をいたします。

(定員に達しない場合は当日参加も可能です。)

問合先

電子技術部電子材料グループ 金子
化学技術部化学評価グループ 城田

電子メール:f-hyoka@kanagawa-iri.jp

開催内容

13501400 開会挨拶

14001420 新規導入装置(X線回折装置・X線応力装置)の紹介
                                  株式会社 リガク  田中 大樹

14201520 「X線回折法による先端機能性薄膜の評価技術」
                                  
株式会社 リガク  稲葉 克彦

15201530 休憩 

15301545 「X線回折分析の支援事例 〜結晶だけじゃないX線回折分析」
                                                      電子技術部              金子 智

15451600 「蛍光X線分析(XRF)による支援事例 ~RoHS分析にはまずスクリーニングから」
                                        化学技術部              坂尾 昇治

16001615 「元素分析の支援事例 ~昨年度導入装置(ポータブルXRF・CS計・CHN計)の紹介」
                                  化学技術部     城田 はまな

16151645  質疑・情報交流・見学会(見学会は希望者)