平成29年度 新規導入設備紹介

当研究所に平成 29年度に導入された機器を紹介しています。

過去の導入機器については、下記ページをご覧ください。

回路定数・測定解析システム

この装置について
電子部品の低周波からマイクロ波帯域までの回路定数(インピーダンス、伝送損失等)を測定及び解析可能なマルチポート対応型ベクトルネットワークアナライザです。
用途・特徴について
本装置は回路基板や伝送ケーブル等の電子部品を設計する場合に必要となるインピーダンスや反射及び伝送特性(Sパラメータ)を測定することができます。測定ポートは最大18まで装備しているためLANやUSBケーブルなどのマルチポートケーブルの伝送特性も測定することができます。また、測定結果について時間領域解析(TDR、アイパターン等)も可能です。更に、内蔵する2信号源を利用したアンプの相互変調測定及びミキサーの変換利得測定にも対応しています。
名称・型番について
ローデ・シュワルツ製 ネットワークアナライザ ZNB8(18ポート測定用テストポート付)(最大周波数:8.5GHz)
利用するには

依頼試験や受託研究でご利用いただけます。装置の仕様ほか詳細は担当者までご相談ください。

【問い合わせ先】電子技術部 電磁環境グループ
本装置は公益財団法人JKAの平成29年度公設工業試験研究所等における機械設備拡充補助事業による補助を受けて導入しました
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ハイブリッドレーザー顕微鏡

この装置について
電子部品など微小な試料の観察や三次元形状を高精度で測定を行う装置です。他の測定法と比べて、光学式評価の特徴である非接触での測定が可能であり、短時間で観察と形状測定を同時に行うことができます。得られた三次元形状から表面粗さなどの様々な計測を行うことや、断面形状を出力して幅や高さなどの計測を行うことができます。
用途・特徴について
幅や高さの精度が高いことが特徴であり、白色コンフォーカル観察では三次元形状を測定すると同時に焦点深度の深いカラー高精細画像を観察できます。またバイオレットレーザーを用いることで、高分解能観察が行えます。さらに、光干渉測定機能で広視野において高さ測定をナノレベルで行うことや、反射分光膜厚測定機能で観察視野内の透明膜の膜厚分布を評価することができます。
本装置を用いることで、新技術・新材料の開発や故障個所の観察ができ、製造業をはじめとした幅広い分野で利用できます。
名称・型番について
レーザー顕微鏡:レーザーテック(株)製:OPTELICS HYBLID
本体付属品:2軸ゴニオメータ
オプション:電動ステージ XYストローク150mm×150mm
利用するには

試験計測や受託研究でご利用いただけます。装置の仕様ほか詳細は担当者までご相談ください。

【問い合わせ先】電子技術部 電子材料グループ
本装置は公益財団法人JKAの平成29年度公設工業試験研究所等における機械設備拡充補助事業による補助を受けて導入しました
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電波暗室改修及びシールド室増設

この装置について
IoT機器・生活支援ロボット・医療用電子機器等から発生する不要電磁ノイズの測定(EMI測定)や静電気・電磁界・雷サージ等の電磁ノイズに対する耐性試験(イミュニティ試験)を実施する実験設備です。この実験室では、内外の電磁ノイズを遮断し、歪のないクリーンな電源で試験を実施します。国の補助金(内閣府地方創生拠点整備交付金)により、電波暗室の電波吸収体交換、シールド室の増設および付帯設備の機能強化を行いました。
用途・特徴について
電波暗室は、国際規格CISPR32に対応した放射EMI測定、3次元アンテナ指向性測定などに対応しました。シールド室は2部屋となり、伝導EMI測定と各種イミュニティ試験を効率よく実施できます。
名称・型番について
電波暗室(改修):日本イーティーエス・リンドグレン(株):3m法電波暗室
シールド室(増設):日本イーティーエス・リンドグレン(株):シールドルーム
3次元球面電波測定システム:日本イーティーエス・リンドグレン(株):2115CR、EMCenter、EMQ-100
利用するには

依頼試験、受託研究でご利用いただけます。装置の仕様ほか詳細は担当者までご相談ください。

【問い合わせ先】電子技術部 電磁環境グループ
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多目的X線回折装置

この装置について
本装置は、複数の測定法を用いることで薄膜結晶構造の評価が多目的に行えます。薄膜材料の密度と膜厚(2~200nm)や結晶配向性の評価が行え、結晶構造を含むデータベースを利用して、未知材料の同定も可能です。
用途・特徴について
薄膜測定では、材料の結晶性に応じて、入射ビーム光学系と受光側光学系を選択し、逆格子マッピングによる格子定数の分布や方位の解析、また、基板垂直方向だけでなく、面内での配向性の評価ができます。これらの測定により、単結晶と多結晶の評価や、基板に対する薄膜の成長方向などが判断できます。更に、材料の深さ方向の結晶性の評価も可能になっています。受光系には2次元検出器を備えていますので、高速な測定が行えます。
名称・型番について
リガク SmartLab
利用するには
  1. 依頼試験
    測定や解析で要する時間により、
    薄膜1試料につき、34,560円、53,136円です。
  2. 受託研究
    評価内容などの打ち合わせにより、料金を決定します。  
【問い合わせ先】電子技術部 電子材料グループ
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人工気象室の拡充

この装置について
夏季や冬季の温度と湿度を再現して、屋外設置機器の夏季環境下での動作確認試験や衣料品の快適性能の評価などを実施します。また、日射や降雨、風を伴う試験も行っています。
蓄電システムや空調機器、医療福祉機器、IoT 関連機器の評価、開発の支援を行うために人工気象室を次のように拡充いたしました。
用途・特徴について
増設した人工気象室は、主室(幅5m×奥行4m×高さ2.3m)と前室(幅2.5m×奥行4m×高さ2.3m)の2室構成としたことにより、外気温との温度差が大きい環境下での試験で、前室を経由して予冷、予熱することにより測定物のヒートショックや結露を軽減することができます。また、前室もしくは主室を個別に利用することもできます。主室の温度・湿度範囲は-30℃~+60℃であり、湿度範囲は10%RH~90%RH、前室の温度・湿度範囲は0℃~+60℃、湿度範囲10%RH~90%RHです。
さらに本装置は、メタルハライドランプ(1200W/m2)を採用することにより太陽光に近い波長で照射することが可能となりました。
名称・型番について
人工気象室 エスペック社製
利用するには

依頼試験、受託研究でご利用いただけます。様々な環境下での動作確認や試験計測にご利用ください。詳細は担当者までご相談ください。

【問い合わせ先】化学技術部 新エネルギーグループ
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