平成30年度 新規導入設備紹介

当研究所に平成 30年度に導入された機器を紹介しています。

過去の導入機器については、下記ページをご覧ください。

5軸制御マシニングセンタ

この装置について
5軸制御マシニングセンタとは、直線3軸+旋回2軸を同時に制御することを可能とし、フライス工具、エンドミル等の工具を把持して、工作物を所定の形状に加工するNC(数値制御)工作機械です。
用途・特徴について
以下の用途に利用可能です。
1.部品、治具等の試作加工
3軸加工では難しい複雑な形状の部品を、「割り出し5軸加工」、「同時5軸加工」を活用することにより試作することができます。

2.装置の導入前検討
本装置を使って試作加工することで、5軸制御マシニングセンタの導入効果を事前に検討することができます。

3.切削性能評価試験
切削動力計と組み合わせて切削時の特性(切削抵抗)を評価することで、切削工具や油剤、加工法等の新規開発に活用することができます。
名称・型番について
OKK(株)製 VC-X350 
利用するには

本装置は依頼試験や受託研究でご利用いただけます。詳細な利用方法については、担当までお問合せください。

【問い合わせ先】情報・生産技術部 試作加工グループ
本装置は、経済産業省平成29年度地域新成長産業創出促進事業費補助金を受けて導入しました。
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2槽独立型スーパーキセノンウェザーメーター

この装置について
促進耐候性試験機(ウェザーメーター)は、屋外の日光、雨、温・湿度などを模擬し、プラスチックや塗料など様々な材料を短時間で劣化させることができます。
用途・特徴について
 キセノンランプは、照射光が紫外から可視光まで幅広い波長にわたって太陽光に近似していることから、耐候劣化を再現するのに好ましい光源としてISO等の規格で採用されています。

 既存の設備では、最大放射照度が60W/m2でしたが、新たな促進耐候性試験機では地表で受ける太陽光の照射エネルギーの約3倍となる180W/m2まで設定が可能となりました。

 本装置では、標準と大型の2つの試験槽を有し、それぞれ独立した条件での試験ができます。標準槽(左側φ580mm)は、60 W/m2~180 W/m2までの強照度試験が可能となります。大型槽(右側φ960mm)では、多くの試料や大型の試験片が取付けられます。また、20℃以下の低温保持試験によって、熱に影響を受けやすい材料にも対応することができます。
名称・型番について
2槽独立型スーパーキセノンウェザーメーター:スガ試験機(株)製 SX75-X75LZ
利用するには

本装置は依頼試験や受託研究でご利用いただけます。詳細な利用方法については、担当までお問合せください。

【問い合わせ先】化学技術部 材料化学グループ
本装置は、公益財団法人JKAによる平成30年度公設工業試験研究所等における機械設備拡充補助を受けて導入しました。
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簡易型走査電子顕微鏡

この装置について
 タングステンフィラメントタイプの走査電子顕微鏡(SEM)で、CCD画像(光学画像)とSEM像が連動する機能を有し、低倍率(光学)から高倍率観察(SEM)まで、同一の観察視野のまま連続的な観察が可能です(Zeromag機能)。

 観察倍率は×5~300,000 で、分解能は高真空モードで3.0nm(30kV)、8.0nm(3kV)、15.0nm(1kV)、低真空モードで4.0nm(30kV)です。

 また、導電性の無い物質の観察に適した低真空モード(10~100Pa)での観察や、高真空モードでの観察、エネルギー分散型X線分析装置(EDS)によるホウ素(B)からウラン(U)までの元素分析や観察面の元素マッピングも可能です。

 さらに、複数のSEM画像を自動的に重ね合わせ、広範囲の合成画像を作成する機能(モンタージュ機能)を有しており、広範囲のSEM画像を得ることも可能です。
用途・特徴について
 観察可能な最大試料サイズはΦ150mm×48mmtで、比較的大型の試料もそのまま観察することが可能です。

 また、異物等の解析を行う場合は、CCD画像による広範囲の観察で異物の存在箇所を特定するとともに、特定した異物について、同一視野の拡大によるSEM観察やEDSによる元素分析を一連の作業で行うことが可能です。
名称・型番について
簡易型走査電子顕微鏡 日本電子(株)製:JSM-IT200LA 
利用するには

本装置は依頼試験や受託研究でご利用いただけます。詳細な利用方法については、担当までお問合せください。

【問い合わせ先】機械・材料技術部 ナノ材料グループ
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高速温湿度システム(急速温度変化サイクル試験機)

この装置について
 -45℃~+155℃の温度範囲において、最大で18℃/分の温度変化の試験を行うことができるとともに、定値運転や温度勾配制御において高精度の温度・湿度制御が可能で、高度な温湿度サイクル試験が可能です。

〇内容積   :249L(W 600mm×H 830mm×D 500mm)

〇温度性能
・調温調湿方式:平衡調温調湿方式(BTHCシステム)
・温度範囲  :-70~+180℃
・温度変動  :±0.3℃
・温度勾配  :3.0℃
・温度変化速度:上昇 18℃/分  下降 18℃/分

〇温湿度性能
・温湿度範囲 :+10~+95℃/10~98%rh
・湿度変動  :±2.5%rh
・湿度勾配  :10.0%rh
用途・特徴について
 高集積化による半導体デバイスの動作温度温度の上昇や、BGA・CSP等の実装方法の変化等による電子デバイスや回路基板等の信頼性評価試験として、急速な温度変化による不良再現性を評価する機器です。
名称・型番について
エスペック(株)製 急速温度変化サイクル試験機:ARSF-0250-15
利用するには

本装置は依頼試験や受託研究でご利用いただけます。詳細な利用方法については、担当までお問合せください。

【問い合わせ先】電子技術部 電子システムグループ
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高速温湿度システム(熱衝撃試験機)

この装置について
 複数の素材で構成される電子基板等の製品や樹脂・金属材料等に対し、高温と低温の雰囲気を短時間で切り替えることで、急激な熱衝撃を与え、製品や材料の信頼性を評価する装置です。本装置は、テストエリアに高温空気と低温空気を交互に送り込んで熱衝撃を与えるため、供試材を移動せず試験が可能です。

〇主なスペック
・内容積      :70L(W 410mm×H 460mm×D 370mm)
・高温さらし温度範囲:+60~+200℃
・低温さらし温度範囲:-70~0℃
・予熱上限     :+205℃
・温度上昇時間   :室温→+200℃まで15分以内
・予冷下限     :-75℃
・温度降下時間   :室温→-75℃まで40分以内
・テストエリア耐荷重:30kg(等分布荷重)

用途・特徴について
 電子基板等の、異なる素材で構成される製品や部材の温度変化に対する信頼性評価試験を行えます。
名称・型番について
エスペック(株)製 熱衝撃試験機:TSA-73ES-W
利用するには

本装置は依頼試験や受託研究でご利用いただけます。詳細な利用方法については、担当までお問合せください。

【問い合わせ先】電子技術部 電子システムグループ
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高速温湿度システム(高度加速寿命(PCT)試験機)

この装置について
 PCT(Pressure Cooker Test)とも呼ばれる試験機で、「乾湿球温度制御」「不飽和制御」「濡れ飽和制御」の3モードを装備し、国際規格IEC60068-2-66に対応しています。

〇主なスペック
・温度範囲  :+105.0~+162.2℃
・湿度範囲  :75~100%rh
・試験圧力  :0.020~0.392MPa(Gauge)
・内容積   :22L(φ294mm×L 318mm)
用途・特徴について
 試料の耐湿性評価やパッケージの気密性評価等を行う機器で、通常の使用環境とは異なる、高温や飽和状態で結露が発生する場合の故障モードの評価試験が可能です。
名称・型番について
エスペック(株)製 高度加速寿命(PCT)試験機:EHS-412M
利用するには

本装置は依頼試験や受託研究でご利用いただけます。詳細な利用方法については、担当までお問合せください。

【問い合わせ先】電子技術部 電子システムグループ
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複合疲労試験機

この装置について
一般的な引張・圧縮方向に加え、ねじり方向の疲労試験も可能で、医療用製品の試験規格などにも対応可能な装置です。
用途・特徴について
1.引張・圧縮(最大荷重±10kN)、ねじり(最大トルク±100Nm)およびこれらの複合試験が可能

2.丸棒や板の状態で固定可能なグリップおよび製品の取り付けに便利なT溝付き定盤を装備

3.リニア―モーターによる消費電力および騒音の大幅な低減
名称・型番について
インストロンジャパン製 Electro Pulse E10000 
利用するには

本装置は依頼試験や受託研究でご利用いただけます。詳細な利用方法については、担当までお問合せください。

【問い合わせ先】機械・材料技術部 材料評価グループ
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