海老名本部:手数料及び使用料表

平成31年度版

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※手数料、使用料とも消費税を含んでいます。 

金属材料・部品の試験 電気・電子の試験 磁気関係 非破壊検査試験 半導体関係
環境試験 電磁波ノイズ試験 その他の試験(1) 無機定性・定量分析 表面分析
分光分析 クロマトグラフ分析 熱分析 X線解析 有機物分析
合成樹脂(プラスチック) 塗料・塗膜試験 その他の試験(2) 繊維関連試験 水・廃棄物・廃ガス
その他の試験(3) 木質材料・製品 加工(金属加工) FL-net(OPCN-2)ネットワーク認証試験 CC-Link適合性評価試験
振動騒音関係 機械設計・解析・三次元造形 微生物・生化学・食品試験 デザイン・企画 研究生の指導
成績書の複本の交付 認定試験

金属材料・部品の試験

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
E0011 走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍以下 1試料1視野観察につき 19,440 機械・材料技術部
K1310
E0012 走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍以下 1視野追加観察につき 4,320
K1315
E0013 走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍を超えて10万倍以下 1試料1視野観察につき 28,080
K1320
E0014 走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍を超えて10万倍以下 1視野追加観察につき 8,640
K1325
E0015 走査電子顕微鏡写真撮影 10万倍を超えるもの 1試料1視野観察につき 49,680
K1330
E0016 走査電子顕微鏡写真撮影 10万倍を超えるもの 1視野追加観察につき 14,040
K1335
E0017 走査電子顕微鏡写真撮影 10~15視野 108,000
K1392
E0018 走査電子顕微鏡写真撮影 16~30視野 162,000
K1395
E0021 元素分析(No.E0011~0018に適用) 1ヶ所につき 6,588 機械・材料技術部
E1790 電子線後方散乱回折(EBSD)法による結晶方位解析 1試料当たり 44,388
E1791 電子線後方散乱回折(EBSD)法による結晶方位解析 1ヶ所増 1ヶ所増すごとに 11,016
E0022 走査電子顕微鏡試料調整(イオンミリング法)(1)(標準的なもの) 43,524
E0023 走査電子顕微鏡試料調整(イオンミリング法)(2)(複雑なもの) 64,908
E0031 金属組織写真撮影 写真1枚につき 9,504
K5100
E0040 写真焼増し 写真1枚につき 324
K5111
E0050 外観写真撮影 写真1枚につき 4,752
K5112
E0060 マクロ組織写真 写真1枚につき 7,128
K5113
E0070 写真撮影箇所増し(No.E0031,E0050,E0060に適用) 同一試料で1ヶ所増すごとに 2,700
K5114
E0080 顕微鏡試料調整(1) (容易なもの) 1試料につき 1,728
K5120
E0090 顕微鏡試料調整(2)(標準的なもの) 1試料につき 3,240
K5121
E0091 顕微鏡試料調整(3)(比較的複雑なもの) 1試料につき 6,480
K5122
E0092 顕微鏡試料調整(4)(非常に複雑なもの) 1試料につき 9,504
K5123
E0110 引張・圧縮・曲げ試験(1)(簡単な試験) 1試料1条件につき 2,268 機械・材料技術部
E0120 引張・圧縮・曲げ試験(2)(比較的簡単な試験) 1試料1条件につき 3,780
E0130 引張・圧縮・曲げ試験(3)(標準的な試験) 1試料1条件につき 4,968
E0140 引張・圧縮・曲げ試験(4)(やや複雑な試験) 1試料1条件につき 6,480
E0150 引張・圧縮・曲げ試験(5)(複雑な試験) 1試料1条件につき 9,720
E0160 大型構造物強度試験(1)(簡単な試験) 1試料1条件につき 7,992
E0165 大型構造物強度試験(2)(標準的な試験) 1試料1条件につき 13,284
E0170 大型構造物強度試験(3)(複雑な試験) 1試料1条件につき 20,304
E0175 常温シャルピー衝撃試験 1試料につき 1,296
E0176 低温シャルピー衝撃試験 1試料につき 2,916
E0180 硬さ試験 1点につき 972 情報・生産技術部
K5330
E0191 薄膜・微小部硬さ試験 1試料1ヶ所につき 20,304 機械・材料技術部
E0192 薄膜・微小部硬さ試験 1ヶ所増 1ヶ所増すごとに 9,288
E0211 トライボ試験 1試料1条件につき 7,128
E0212 トライボ試験 1件増 1条件増すごとに 3,240
E0220 三次元座標測定 1試料1時間につき 15,012 情報・生産技術部
E0230 三次元座標測定(光学式) 1時間当たり 7,560
E0240 表面粗さ測定(A)(簡単な形状) 1試料1ヶ所につき 1,188
E0250 表面粗さ測定(B)(複雑な形状) 1試料1ヶ所につき 2,700
E0270 工具寿命試験 1試料1項目につき(バイト被削材は持ち込み) 14,688
E0290 X線残留応力測定 1試料1方向につき 5,292 機械・材料技術部
E0310 切削抵抗測定 1項目につき(バイト被削材は持ち込み) 10,800 情報・生産技術部
E0360 アルゴンアーク溶解試験 1時間当たり 6,588 機械・材料技術部
E0361 真空溶解試験 1時間当たり 8,208
E0415 疲労試験 1時間以内 1試料1条件につき 5,616
E0420 疲労試験 8時間以内 1試料1条件につき 15,984
E0431 疲労試験 大型構造物 8時間以内 1試料1条件につき 20,520
E0435 疲労試験 8時間増(No.E0420,E0431に適用) 8時間を超えて8時間増すごとに 6,696
E0440 熱間加工性試験 1試料につき 7,236
E0450 NC放電加工試験 1時間につき 2,268 情報・生産技術部
E0460 ホットプレス処理 1時間当たり 7,668 機械・材料技術部
E0470 HIP処理 1時間当たり 17,712
E0480 熱処理特性試験 1時間当たり 11,880
E0490 立形マシニングセンターによる加工 1時間当たり 5,940 情報・生産技術部

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 電気・電子の試験

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
E0510 電流電圧測定(1mA以上,1mV以上) 1試料1条件につき 2,916 電子技術部
E0570 電気抵抗測定 1試料1条件につき 3,564
E0591 四探針法による抵抗率測定 1試料1条件につき 9,180
E0660 電気機器・漏れ電流測定 1条件1測定につき 4,320
E0670 電気機器・耐電圧試験 1試料1測定につき 3,672
E0680 電気機器・接地回路の抵抗測定 1条件1測定につき 4,428
E0690 LCR測定 1試料1条件につき 8,640
E0710 LCR測定 1ヶ所増 1試料につき測定点1ヶ所増すごとに 2,808
E0750 絶縁抵抗試験 1条件1測定につき 4,536
E0760 電気機器・温度試験 1測定点につき 2,700
E0761 はんだ継手強度試験 1測定条件につき(10測定点まで) 17,496
E0762 はんだ継手強度試験 5増 5測定点増すごとに 7,884
E0780 ネットワークアナライザ測定(マルチポート) 1測定につき 9,504
E0791 ネットワークアナライザ測定(4ポートまで) 1試料1条件につき 6,912
E0792 ネットワークアナライザ測定(4ポートまで) 1件増 1条件増すごとに 2,700
E0811 スペクトラムアナライザ測定 1試料1条件につき 6,048
E0812 スペクトラムアナライザ測定 1件増 1条件増すごとに 2,484
E0813 電源変動および瞬停試験 2時間まで 11,124
E0814 電源変動および瞬停試験 1時間増 1時間増すごとに 5,508
E0820 電気機器・電力測定 1試料1条件につき 4,860
E0830 高周波伝送特性測定(Sパラメータ・TDR測定) 1条件1測定につき 14,472
E0840 高周波伝送特性測定(Sパラメータ・TDR測定) 1件増 1測定増すごとに 3,780
E0850 マイクロ波誘電率測定(共振器法・誘電体プローブ法) 1条件1測定につき 16,740
E0860 マイクロ波誘電率測定(共振器法・誘電体プローブ法) 1件増 1測定増すごとに 5,616
E0870 マイクロ波誘電率・透磁率測定(Sパラメータ法) 1条件1測定につき 15,336
E0880 マイクロ波誘電率・透磁率測定(Sパラメータ法) 1件増 1測定増すごとに 4,212
E0881 マイクロ波誘電率・透磁率測定(ハーモニック共振器法) 1測定につき 17,280
E0890 1000BASE-Tコンプライアンステスト 1時間につき 4,320 情報・生産技術部

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磁気関係

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
E0910 磁化特性測定(VSM方式) 1試料1測定につき 6,048 電子技術部
E0920 磁化特性測定(積分方式) 1試料1測定につき 4,212
E0930 磁歪測定 1試料1測定につき 17,496
E0931 磁歪測定 条件増 1条件増すごとに 11,124
E0940 磁化温度特性測定 1試料1測定につき 19,008
E0950 薄膜交流透磁率測定 1試料1測定につき 4,968
E0951 交流磁化特性測定(B-H曲線、鉄損、透磁率、インダクタンス) 1試料1測定につき 9,288
E0952 交流磁化特性測定(B-H曲線、鉄損、透磁率、インダクタンス)条件増 1条件増すごとに 6,156
E0953 交流磁化特性測定(B-H曲線無しの連続測定、可変条件は1) 1条件5測定まで 15,660
E0954 交流磁化特性測定(B-H曲線無しの連続測定、可変条件は1)測定増 1測定増すごとに 2,376
E0958 試料調整 1時間当たり 2,916
E0959 データ処理 1時間当たり 2,916

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非破壊検査試験

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
E0960 X線透過試験 1時間当たり 7,128 機械・材料技術部
E0981 X線CT撮影(容易なもの) 1測定につき 32,076
E0982 X線CT撮影(標準的なもの) 1測定につき 48,168
E0983 X線CT撮影(複雑なもの) 1測定につき 64,152
E0990 非破壊超音波映像撮影 1時間当たり 9,072 電子技術部
E0991 非破壊超音波映像撮影(データ解析のみ) 1解析当たり 3,564

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半導体関係

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
E1030 薄膜屈折率測定 1試料につき 22,680 電子技術部
E1040 定エネルギー分光測定 1条件につき 34,128
E1050 膜厚測定 1試料1測定点につき 6,696
E1051 三次元微細形状測定 標準1測定当たり 11,448
E1060 フォトルミネッセンス測定 1試料1条件につき 40,608
E1070 高分解能(1nm以下)フォトルミネッセンス測定 1試料1条件につき 80,244
E1080 低温光特性評価 1試料1条件につき 32,940
E1090 位相差測定 1試料1条件につき 10,692
E1120 酸化拡散試験 1時間当たり 23,868
E1130 光干渉式膜厚測定 1試料1測定点につき 2,916
E1140 光干渉式膜厚測定 1増 1試料につき1測定点増すごとに 1,404
E1145 ハイブリッドレーザー顕微鏡 1測定1解析につき 8,208
E1146 ハイブリッドレーザー顕微鏡 1視野追加につき 4,104
E1150 超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定 1測定1解析につき 7,884
E1151 超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定 1増 1解析増すごとに 2,052
E1152 ホール効果測定 1試料1条件につき 19,872
E1153 超音波ウェッジボンダ試験 1時間当たり 8,316
E1154 超音波ボールボンダ試験 1時間当たり 9,828
E0763 ワイヤーボンディング強度試験 1測定条件につき(10測定点まで) 20,196
E0764 ワイヤーボンディング強度試験 5増 5測定点増すごとに 9,288
E0765 ダイシェア試験 1測定条件につき(10測定点まで) 21,492
E0766 ダイシェア試験 5増 5測定点増すごとに 9,936
E1155 ダイシング加工(半導体基板精密加工) 1時間当たり 15,984
E1156 真空蒸着 標準1試料当たり 35,532
E1157 真空蒸着 1増 1条件増すごとに 17,280
E1158 スパッタ成膜 標準1試料当たり 46,548
E1160 イオンプレーティング成膜 標準1試料当たり 47,628
E1170 イオンプレーティング成膜 1条件増 1条件増すごとに 18,468
E1180 アッシャーによるプラズマ処理 1条件1時間につき 16,956
E1190 ECRプラズマエッチング 標準1試料当たり 45,792
E1191 高精度フォトリソグラフィ 1枚につき 23,868
E1192 高精度フォトリソグラフィ 1枚増 1枚増すごとに 8,532
E1200 電子線リソグラフィ  1時間当たり 9,504
E1201 電子線リソグラフィ試料調整 1試料につき 8,748
E1211 クリーン雰囲気試験 1時間当たり 5,832

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環境試験

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
E1230 恒温恒湿槽(中) 24時間まで 17,820 電子技術部
K5410
E1240 恒温恒湿槽(中)24時間増 24時間増すごとに 7,236
K5411
E1270 恒温恒湿槽(中)サイクル 24時間まで 22,680
K5415
E1280 恒温恒湿槽(中)サイクル24時間増 24時間増すごとに 8,208
K5416
E1290 高温槽 24時間まで 11,016 電子技術部
E1310 高温槽 24時間増 24時間増すごとに 5,616
E1320 プレッシャークッカー試験 24時間まで 17,820
K5440
E1330 プレッシャークッカー試験 24時間増 24時間増すごとに 11,448
K5441
E1350 冷熱衝撃試験(中) 8時間まで 9,504 電子技術部
化学技術部
K1810
E1360 冷熱衝撃試験(中) 8時間増 8時間増すごとに 4,968
K1811
E1370 恒温恒湿槽(大、150℃対応) 24時間まで

28,728

電子技術部
E1375 温恒湿槽(大、150℃対応) 24時間増 24時間増すごとに 15,768
E1380 冷熱衝撃試験(大) 8時間まで 12,636
E1385 冷熱衝撃試験(大) 8時間増 8時間増すごとに 6,480
E1390 小型恒温恒湿槽(SH) 24時間まで 15,444
E1391 小型恒温恒湿槽(SH)・24時間増す毎 24時間増すごとに 6,588
E1392 小型恒温槽 (温度のみ) 24時間まで 12,312
E1393 小型恒温槽 (温度のみ)・24時間増す毎 24時間増すごとに 4,968
E1394 人工気象室(小型) 1時間ごとに 5,076 化学技術部
E1395 人工気象室(大型) 1時間ごとに 7,452
E1396 日射装置 1時間ごとに(人工気象室(大型)の料金に加算) 6,264

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電磁波ノイズ試験

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
E1410 放射妨害波測定 2時間まで 36,720 電子技術部
E1420 放射妨害波測定 1時間増 1時間増すごとに 14,148
E1425 車載機器の放射・伝導妨害波測定 2時間まで 36,720
E1426 車載機器の放射・伝導妨害波測定 1時間増 1時間増すごとに 14,148
E1430 電源・通信ポート伝導妨害波測定 1時間まで 22,572
E1440 電源・通信ポート伝導妨害波測定 1時間増 1時間増すごとに 14,148
E1450 雑音電力測定 1時間まで 22,680
E1460 雑音電力測定 1時間増 1時間増すごとに 14,148
E1471 放射電磁界イミュニティ試験 2時間まで 28,620
E1481 放射電磁界イミュニティ試験 1時間増 1時間増すごとに 10,908
E1490 静電気放電イミュニティ試験 1時間まで 11,232
E1510 静電気放電イミュニティ試験 1時間増 1時間増すごとに 6,588
E1520 電気的ファーストトランジェント/
バーストイミュニティ試験
1時間まで 11,232
E1530 電気的ファーストトランジェント/
バーストイミュニティ試験 1時間増
1時間増すごとに 6,588
E1540 雷サージイミュニティ試験 1時間まで 11,232
E1550 雷サージイミュニティ試験 1時間増 1時間増すごとに 6,588
E1551 伝導電磁界イミュニティ試験 1時間まで 17,604
E1552 伝導電磁界イミュニティ試験 1時間増 1時間増すごとに 10,692
E1560 インパルスノイズ試験 1時間まで 11,232
E1570 インパルスノイズ試験 1時間増 1時間増すごとに 6,588
E1581 電磁波シールド効果測定 (100kHz~1GHz、KEC法) 1試料1測定(電界または磁界)につき 5,832
E1600 マイクロ波電磁波シールド効果測定 (1GHz~8.5GHz、2焦点型扁平空洞) 1試料1測定につき 6,480
E1610 電波吸収率測定(簡易アンテナ法) 1条件1測定につき 12,312
E1620 電波吸収率測定(簡易アンテナ法) 1件増 1測定増すごとに 3,348
E1630 アンテナ指向性測定 2時間まで 38,448
E1640 アンテナ指向性測定 1時間増 1時間増すごとに 15,120
E1650 三次元アンテナ指向性測定 2時間まで 43,308
E1660 三次元アンテナ指向性測定(1時間増) 1時間増すごとに 20,088

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その他の試験(1)

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
E1780 走査型プローブ顕微鏡観察 標準1条件1測定につき 21,816 電子技術部
E1781 走査型プローブ顕微鏡観察 1追加 1視野追加につき 10,152

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無機定性・定量分析

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
E1810 定量分析(普通) 1試料1成分につき 7,020 化学技術部
E1820 定量分析(特殊A) 1試料1成分につき 9,720
E1830 定量分析(特殊B) 1試料1成分につき 16,092
E1841 蛍光X線分析(エネルギー分散方式)(1) 1試料1ヶ所につき 8,532
E1842 蛍光X線分析(エネルギー分散方式)(2) 1条件増すごとに 2,808
E1860 蛍光X線分析(波長分散方式) 1試料につき 18,900
E1911 ICP発光分光分析法による定性分析(基本15元素) 1試料につき 15,552
E1921 ICP発光分光分析法による定性分析 1増 1元素増すごとに 972
E1940 試料調製(1) NoE1810,E1820,E1860,E2021,
E2211,E2212,E2220,E2230,
E2260,E2281,E2282,E2290,E2294,E2295,
E2310,E2320,E2330,E2340,
E2410,E2420,E2430,E2441,E2442,E2450,E2460,
E3460,E4010,E4020,E4140 に適用
1,728
E1950 試料調製(2) NoE1810,E1820,E1830,E1860,
E1911,E2021,E2211,E2212,
E2220,E2230,E2260,E2281,
E2282,E2290,E2294,E2295,E2310,E2320,
E2330,E2340,
E2410,E2420,E2430,E2441,E2442,E2450,E2460,
E3460,E4010,E4020,E4140 に適用
8,748
E1960 試料調製(3) NoE1820,E1830,E1911,E2021,
E2211,E2212,E2220,E2230,
E2260,E2281,E2282,E2290,E2294,E2295,
E2310,E2320,E2330,E2340,
E3460,E4010,E4020,E4140 に適用
14,580
E1970 試料調製(4) NoE1810,E1820,E1830,E1841,
E1860,E1911,E2211,E2212,
E2220,E2230,E2260,E2281,
E2282,E2290,E2294,E2295,E2310,E2320,
E2330,E2340,E3460,E4010,E4020,E4140,E4530
に適用
4,644

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表面分析

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
E1882 X線光電子分光分析(B) (簡単なもの) 1試料1ヶ所につき 17,280 機械・材料技術部
E1884 X線光電子分光分析(B) (簡単なもの) 条件増 1条件増すごとに 7,884
E1980 微小部X線光電子分光分析(ワイドスキャンのみ) 1試料1ヶ所につき 13,500
E1982 微小部X線光電子分光分析 (ワイドおよびナロースキャン) 1試料1ヶ所につき(6元素まで) 19,980
E1984 微小部X線光電子分光分析(面分析,線分析) 1試料1ヶ所につき(5元素まで) 20,844
E1986 微小部X線光電子分光分析(深さ方向分析) 1試料1ヶ所につき(6元素まで) 31,536
E1990 微小部X線光電子分光分析 条件増 1条件増すごとに 4,860
E1992 微小部X線光電子分光分析 元素増(1) 1元素増すごとに(No1982,1984に適用) 4,104
E1994 微小部X線光電子分光分析 元素増(2) 1元素増すごとに(No1986に適用) 6,264
E2541 電子線マイクロアナライザ観測 1試料につき 27,324
E2542 写真撮影 (二次電子像、反射電子像) 1試料につき 23,220
E2543 写真撮影 (二次電子像、反射電子像) 1ヶ所増 同一試料で1ヶ所増すごとに 5,400
E2550 電子線マイクロアナライザ観測  追加分析 同一箇所での測定につき(No.E2541に適用) 8,424
E2551 電子線マイクロアナライザ観測 1増 1成分増すごとに 2,808
E2560 電子線マイクロアナライザ観測 試料調整 1試料につき 60,048

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分光分析

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
E2010 紫外・可視分光光度計試験分析 1スペクトルにつき 7,776 機械・材料技術部
E2021 フーリエ変換赤外分光分析 1スペクトルにつき 18,684

機械・材料技術部
化学技術部
K5055

E2023 フーリエ変換赤外分光分析用微小試料調製 1試料につき 2,916 機械・材料技術部
化学技術部
E2080 顕微レーザーラマン分光分析(1) 1試料1ヶ所につき 55,512
E2090 顕微レーザーラマン分光分析(2)1増 1条件増すごとに 28,620
E2091 顕微レーザーラマン分光分析(簡単なもの) 1試料1ヶ所につき 19,116
E2110 分光蛍光光度計試験 1スペクトルにつき 8,748 化学技術部

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クロマトグラフ分析

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
E2211 イオンクロマトグラフ分析(1)(一般的なもの) 1測定につき 15,984 化学技術部
E2212 イオンクロマトグラフ分析(2)(特殊なもの) 1測定につき 20,736
E2220 ガスクロマトグラフ定性分析 1試料1成分につき 7,020
E2230 ガスクロマトグラフ定量分析 1試料1成分につき 6,048
E2240 ガスクロマトグラフ定量分析 1増 1成分増すごとに 3,456
E2250 ガスクロマトグラフ(前処理を必要とする試料) 1試料1成分につき 11,340
E2260 ガスクロマトグラフ(ヘッドスペースサンプラ分析) 1試料1成分につき 13,068
E2270 ガスクロマトグラフ(ヘッドスペースサンプラ分析)1増 1成分増すごとに 5,076
E2281 高速液体クロマトグラフ分析(分析条件検討を含まない) 1試料1成分につき 10,584
E2282 高速液体クロマトグラフ分析(簡単な分析条件を含む) 1試料1成分につき 26,892
E2290 液体クロマトグラフ質量分析(1)(分析条件検討を含まない) 1試料1成分につき 40,608
E2291 液体クロマトグラフ質量分析(1)(簡単な分析条件の検討) 1試料につき(No.2290に適用) 21,384
E2292 液体クロマトグラフ質量分析(1)定性分析 1増 1成分増すごとに 3,780
E2294 液体クロマトグラフ質量分析(2)(分析条件検討を含む) 1試料1成分につき 34,128
E2295 液体クロマトグラフ質量分析(2)(分析条件検討を含まない) 1試料1成分につき 17,604
E2030 試料調製(5)分取用液体クロマトグラフ使用 1試料1成分につき 27,540
E2040 試料調製(6)分取用液体クロマトグラフ使用 1増 同試料1成分増すごとに 3,456
E2310 ガスクロマトグラフ質量分析(GCMS) 1試料1成分につき 38,664
E2311 ガスクロマトグラフ質量分析(GCMS)定性分析 1増 1成分増すごとに 4,968
E2312 ガスクロマトグラフ質量分析(GCMS)定量分析 1増 1成分増すごとに 5,832
E2320 パージアンドトラップGCMS分析 1試料1成分につき 52,272
E2321 パージアンドトラップGCMS分析 定性分析 1増 1成分増すごとに 4,968
E2322 パージアンドトラップGCMS分析 定量分析 1増 1成分増すごとに 5,832
E2330 ヘッドスペースGCMS分析 1試料1成分につき 49,896
E2331 ヘッドスペースGCMS分析 定性分析 1増 1成分増すごとに 4,968
E2332 ヘッドスペースGCMS分析 定量分析 1増 1成分増すごとに 5,832
E2340 サーマルデソープションGCMS分析 1試料1成分につき 53,676
E2341 サーマルデソープションGCMS分析 定性分析 1増 1成分増すごとに 4,968
E2342 サーマルデソープションGCMS分析 定量分析 1増 1成分増すごとに 5,832
E2350 化学イオン化(CI)法によるGCMS分析 1試料につき(No.E2310,2320,2330,2340に適用) 11,232

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熱分析

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
E2410 示差熱熱重量分析 室温~ 600℃ 1測定につき 11,340 化学技術部
E2420 示差熱熱重量分析 室温~1000℃ 1測定につき 16,524
E2430 示差走査熱量分析 1測定につき 14,580
E2431 熱機械分析 1測定につき 14,580
E2441 高圧示差熱・熱重量測定 昇温速度10℃/min以上室温~500℃ 1測定につき 22,140
E2442 発火温度測定(HP-TG法) 1測定につき 19,332
E2450 複合熱分析 1測定につき 67,068
E2460 高圧示差走査熱量測定(RT~500℃,10K/min) 1測定につき 21,708

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X線解析

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
E2510 X線回折試験(A) 1試料につき 21,924 電子技術部
化学技術部
E2520 X線回折試験(B) 1試料につき 34,560
E2530 X線回折試験(C) 1試料につき 53,136

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有機物分析

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
E2610 元素分析(CHN) 1試料につき 14,256 化学技術部
E2631 飛行時間型質量分析 1試料1測定につき 28,296
E2641 核磁気共鳴(NMR)分析 (プロトンのみ) 1試料,1Hの一次元スペクトルにつき 13,068 機械・材料技術部
E2642 核磁気共鳴(NMR)分析 (基本測定) 1試料,1Hおよび13Cの一次元スペクトルにつき 20,736
E2643 核磁気共鳴(NMR)分析(多核など特殊測定) 1試料,1条件につき 31,428
E2644 核磁気共鳴(NMR)分析(二次元測定) 1試料,1Hおよび13Cの一次元スペクトルおよび相関スペクトル(DQF-COSY, HMQC, HMBC)につき 45,792
E2651 電子スピン共鳴分析(A)(基本測定) 1試料1スペクトルにつき 21,168
E2652 電子スピン共鳴分析(B)(特殊測定・定量) 1試料1スペクトルにつき 36,936

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合成樹脂(プラスチック)

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
E2720 比重試験(水中置換法) 1試料につき 7,128 化学技術部
E2730 吸水試験 1試料につき 6,372
E2740 荷重たわみ温度試験(エッジワイズ) 1試料につき 3,672
E2750 動的粘弾性測定(40℃以上) 1走査(温度変化または振動数変化)につき 17,928
E2760 動的粘弾性測定(-50℃以上) 1走査(温度変化または振動数変化)につき 28,836
E2770 動的粘弾性測定(-130℃以上または液体窒素使用) 1走査(温度変化または振動数変化)につき 41,040
E2771 ペルチェシステム使用(-10~150℃) No.E2750, E2760に適用 5,832
E2772 試料調整(取り付け困難なもの) No.2750, 2760, 2770に適用 2,592
E2773 測定前試料調整 1試料につき1時間毎 (No.E2750,E2760,E2770に 適用) 2,916
E2780 メルトフローレート試験 1試料につき 5,724
E2790 曇価・平行光線透過率試験 1試料につき 5,724
E2820 変形量測定 1試料につき 2,052
E2830 変形量測定(伸び計使用) 1試料につき 5,292
E2840 引張・引裂試験 1試料6試片につき 6,480
E2850 接着・剥離試験 1試料6試片につき 6,480
E2860 曲げ試験 1試料6試片につき 6,480
E2870 圧縮試験 1試料6試片につき 6,480
E2880 衝撃試験(アイゾット・シャルピー) 1試料6試片につき 5,724
E2920 硬さ試験(ロックウェル・デュロメータ) 1試料につき 3,132
E2930 熱伝導率測定(プローブ法) 1試料につき 9,288

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塗料・塗膜試験

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
E3010 塗膜物性試験 1試料につき 1,620 化学技術部
E3030 光沢度測定 1試料につき 3,024
E3040 色彩測定 1試料につき 3,024
E3050 浸せき試験 1試料につき 2,916
E3060 塩水噴霧試験 1試料24時間まで 2,160
E3070 耐沸騰水性試験 1試料8時間につき 2,268
E3080 耐熱性試験 1試料500℃まで8時間につき 1,944
E3090 外観撮影 1枚につき 432

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その他の試験(2)

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
E3210 金属の電位測定(1) 1試料につき24時間まで 16,092 化学技術部
E3220 金属の電位測定(2)24時間増 24時間増すごとに 7,344
E3221 金属・合金の腐食減量測定(1) 1試料につき24時間まで 12,204
E3222 金属・合金の腐食減量測定(2) 24時間増 24時間増すごとに 3,456
E3241 燃料電池の発電試験 1時間当たり 7,128
E3242 ガス透過率測定 1試料につき(1時間当たり) 5,616
E3243 アルコールの濃度測定 1試料につき 3,564
E3251 高露点測定(1) 24時間まで(1時間当たり) 3,780
E3252 高露点測定(2)24時間増 24時間増すごとに 24,624
E3253 燃料電池スタック試験(1) 24時間まで(8時間当たり) 4,104
E3254 燃料電池スタック試験(2)24時間増 24時間増すごとに 6,588
E3255 スプレー塗工試験 1時間当たり 4,320
E3261 電池充放電試験(1) 1試料につき6時間まで 21,816
E3262 電池充放電試験(2)6時間増 6時間増すごとに 10,368
E3263 電極の熱ロールプレス処理 1試料1時間につき 3,672
E3265 大型電池充放電試験(2kW以下)(1) 1試料につき6時間まで 8,424
E3266 大型電池充放電試験(2kW以下)(2) 6時間増すごとに 5,724
E3270 金属の分極測定 1試料につき 18,576
E3280 試料調製(1)(比較的容易) No.E3210, E3220, E3221, E3222, E3261, E3262, E3270 に適用 2,916
E3290 試料調製(2)(比較的複雑) No.E3210, E3220, E3221, E3222, E3261, E3262, E3270 に適用 5,832
E3310 超臨界炭酸ガス抽出 1試料につき 12,960
E3311 超臨界水反応装置試験 1試料につき 38,448
E3320 高速冷却遠心分離 1試料につき 4,536

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繊維関連試験

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
E3450 繊維熱物性試験 1試料1測定につき 4,860 化学技術部
E3460 重量測定 1試料につき 540
E3470 繊維水分率測定 1試料につき 1,188
E3520 耐光試験(カーボンアーク) 1試料につき20時間 1,512
E3540 染色堅ろう度試験 1試料1項目1試験につき 972
E3550 処理試験 1試料につき 2,808
E3620 編織物厚さ測定 1試料につき 2,052
E3640 編織物密度試験 1試料につき 1,944
E3650 編織物通気度試験 1試料につき 2,484
E3661 編織物強伸度測定 1試料1方向につき 2,808
E3710 剛軟度試験 1試料1方向につき 1,080
E3730 はっ水度試験 1試料につき 2,376
E3740 寸法変化率試験 1試料につき 2,808
E3770 赤外線放射温度計による表面温度測定 1試料1測定につき 20,196
E3820 糸強伸度測定(容易なもの) 1試料につき 1,080
E3830 糸強伸度測定(結節・引掛・湿潤) 1試料につき 1,296
E3850 伸長特性試験 1試料につき 1,836
E3870 乾熱収縮率試験 1試料につき 1,188
E3880 湿熱収縮率試験 1試料につき 1,080
E3930 赤外線放射計による放射率測定 1試料1測定につき 39,744

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水・廃棄物・廃ガス

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
E4010 水質試験(A) 1項目につき(容易なもの) 5,724 化学技術部
E4020 水質試験(B) 1項目につき(複雑なもの) 9,504
E4030 溶出検液作成(A) 1試料につき (6成分以下) 3,996
E4040 溶出検液作成(B) 1試料につき(7成分以上) 7,236

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その他の試験(3)

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
E4140 比表面積測定(B) 1試料につき 7,560 化学技術部
E4150 接触角測定試験 1試料につき 2,160 機械・材料技術部
E4160 ゼータ電位測定(A)(微粒子分散溶液) 1試料につき 9,936
E4170 ゼータ電位測定(B)(平板形状試料) 1試料につき 12,096
E4180 粒径分布測定(動的光散乱法) 1試料につき 8,640

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木質材料・製品

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
E4210 圧縮試験 1試料につき 2,592 情報・生産技術部
E4220 引張試験 1試料につき 2,916
E4240 曲げ試験(B) 1試料につき 2,268
E4241 曲げ試験(C)(曲げヤング係数等の算出を必要とするもの) 1試料につき 3,348
E4250 摩耗試験 1試料につき 3,888
E4260 局所構造試験 1試料1測定につき 2,700
E4270 密度測定 1試料につき 1,404
E4280 含水率測定 1試料につき 5,616
E4281 含水率測定 1増 一緒の工程で1試料増すごとに 2,160
E4310 いす繰返し衝撃試験 1試料1条件につき 8,100
E4320 いす繰返し衝撃試験 同一試料に連続し4,000回増すごとに 4,644
E4350 いす繰返し耐久性試験 1試料1条件につき(5,000回まで) 8,964
E4360 いす繰返し耐久性試験 同一試料に連続し5,000回増すごとに 4,644
E4370 垂直過重下の強度試験 1試料1条件につき 3,348
E4380 背もたれの静的強度試験 1試料1条件につき 3,348
E4390 脚部の静的強度試験 1試料1条件につき 3,348
E4480 煮沸繰返し試験 1試料につき 2,376
E4490 温冷水浸せき試験 1試料につき 1,512
E4510 試料調整(1)(鋸盤鉋盤などによる試験片作製) 1試料につき 1,512
E4520 試料調整(2)(接着 調湿等の前処理を伴うもの) 1試料につき 2,268
E4530 ホルムアルデヒド放散量試験 1試料につき 8,964 化学技術部
E4540 デジタルマイクロスコープ写真 1試料1ヶ所につき(写真1枚につき) 324 情報・生産技術部

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加工(金属加工)

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
E4620 ワイヤ放電加工 1時間につき 3,672 情報・生産技術部

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FL-net(OPCN-2)ネットワーク認証試験

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
E4820 適合性試験 1試料6時間まで 45,792 情報・生産技術部
E4821 相互接続性試験 1試料2時間まで 30,564

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CC-Link適合性評価試験

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
E4910 ノイズ試験 1試料8時間まで 28,188 情報・生産技術部
E4920 ハードウェア試験 1試料4時間まで 14,040
E4930 ソフトウェア試験 1試料10時間まで 35,208
E4940 組み合わせ試験 1試料6時間まで 21,168
E4950 インタオぺラビリティ試験 1試料5時間まで 17,604
E4960 エージング試験 1試料12時間まで 13,068

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振動騒音関係

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
E4974 時間波形分析(振動) 1分析につき 3,024 機械・材料技術部
E4975 周波数分析(振動) 1分析につき 4,644
E4976 振動試験 1時間当たり 7,776
E4977 損失係数測定(A) 1試料1測定温度につき 11,448
E4978 損失係数測定(B) 1測定温度増すごとに 1,188
E4979 振動試験(大型の試験機によるもの) 1時間当たり 8,856
E4980 騒音測定 1測定につき 2,268
E4981 オクターブ分析 1分析につき 3,132
E4982 時間波形分析(音) 1分析につき 3,024
E4983 周波数分析(音) 1分析につき 4,536
E4984 音響パワーレベル測定 1測定につき 9,180
E4985 音圧分布測定 1測定面につき 14,580
E4986 音質評価解析 1測定につき 5,184
E4987 吸音率測定 1測定につき 3,888

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機械設計・解析・造形

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
E4990 機械設計・解析 1時間当たり 5,076 情報・生産技術部
E4991 三次元造形(小型インクジェット式3Dプリンター) 1時間当たり 648
E4992 デジタル画像解析 1時間当たり 3,024
E4993 三次元モデリング(簡易なもの) 1時間当たり 4,320
E4994 構造解析 1時間当たり 8,208 機械・材料技術部
E4995 高速度カメラ撮影 1時間当たり 5,292 情報・生産技術部
E4996 高速度カメラ撮影(アナログ波形データ収集装置併用) 1時間当たり 5,832
E4997 三次元造形前処理 1時間当たり 2,916
E4998 三次元造形(インクジェット式3Dプリンター) 1時間当たり 2,700
E4999 三次元造形後処理 1時間当たり 3,240

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微生物・生化学・食品試験

No. 項目 単位 手数料(円) 担当部名
E5010 一般細菌数試験 1試料につき 3,780 化学技術部
E5020 大腸菌数試験 1試料につき 3,888
E5030 嫌気性菌数試験 1試料につき 4,968
E5040 抗酸化性測定 1試料につき 3,132
E5060 酵素阻害活性測定(1) 1試料につき 5,400
E5061 酵素阻害活性測定(2) 1試料につき 3,888
E5062 抗糖化性測定(蛍光性AGEs生成抑制試験) 1試料につき 11,664
E5070 アガロースゲル電気泳動測定 1泳動につき(10サンプルまで) 1,728
E5090 水分定量(常圧乾燥法による) 1試料につき 4,104
E5091 遊離アミノ酸組成分析 1試料につき 35,856
E5100 タンパク質定量(Bradford法、Lowry法による) 1試料につき 3,348
E5110 脂質定量(ソックスレー抽出法による) 1試料につき 4,752
E5120 灰分定量(直接灰化法による) 1試料につき 4,752
E5130 総ポリフェノール定量(Folin-Ciocalteu法による) 1試料につき 5,616
E5140 炭水化物定量(フェノール-硫酸法による) 1試料につき 9,396
E5150 リグニン定量(硫酸法による) 1試料につき 8,316
E5160 サフラン試験 1試料につき 26,028
E5170 凍結乾燥(24時間まで) 24時間まで 5,400
E5171 凍結乾燥(24時間増すごとに) 24時間増すごとに 2,484
E5180 試料調製(1) No.E5010~E5171に適用 1,512
E5181 試料調製(2) No.E5010~E5171に適用 3,240
E5182 試料調製(3) No.E5010~E5171に適用 6,264
E5183 試料調製(4) No.E5010~E5171に適用 9,720

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デザイン・企画

No. 項目 単位 手数料(円) 備考
E5280 平面デザイン・企画 1時間につき 3,024 情報・生産技術部
E5290 立体デザイン・企画 1時間につき 3,240

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研究生の指導

No. 項目 単位 手数料(円) 備考
E5310 研究生の指導 1人1日につき 1,080
E5320 研究生の指導 研究生1人増すごとに 540

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成績書の複本の交付

No. 項目 単位 手数料(円) 備考
E5350 成績書の複本の交付 1通につき
(写真を含む場合は別に加算する)
300

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↓ 使用料表(PDFはこちらから

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※金額は1時間当たりの額
※手数料、使用料とも消費税を含んでいます。

材料試験機 金属加工 電子関連装置 分析・評価機器
環境試験装置 木工加工 形状測定機器 測定計測装置
温度熱量測定装置 その他の機器 設備 ファブラボ

材料試験機

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料(円) 担当部名
E6050 材料試験機(5KN) インストロンジャパン 5565型 1,188 化学技術部
E6080 万能材料試験機 オリエンテック UTA-5T 972 情報・生産技術部

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金属加工

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料(円) 担当部名
E6210 コンターマシン アマダ VA-500 324 機械・材料技術部
E6230 平面研削盤 岡本 PSG-52DX 1,512
E6240 ボール盤 ヤマモト YSDT-550 108
E6260 プレスブレーキ アマダ RG-25 1,296
E6270 切断機 Hストルアス社 ディスコトム 1,296
E6290 超精密正面切削装置 東芝機械 ULC-100A(H) 6,696 情報・生産技術部
E6310 帯鋸盤 アマダ HA300 864 機械・材料技術部
E6320 汎用フライス盤 日立精工 2MW-V 1,188
E6330 旋盤 滝沢 TSL 550-D 324
E6340 旋盤 昌運 ST-5 1,080
E6350 CNC旋盤 オークマ LS-30N 5,076 情報・生産技術部
E6360 旋盤 シャブリン SV-150A 1,944 機械・材料技術部
E6370 フライス盤 デッケル FP1 2,268
E6380 立形マシニングセンター 牧野フライス製作所 V33 3,024 情報・生産技術部

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電子関連装置

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料(円) 担当部名
E6620 電極形成装置の本体システム KHエレクトロニクス 特別仕様 18,036 電子技術部
E6650 定エネルギー分光器 日本分光 YQ-250CW-GT 11,772
E6660 ボロメータ評価システム用高温電気測定用チャンバ テクノロ工業 特別仕様 4,428
E6670 ボロメータ評価システム用光源システム 日本分光 SS-25GT 11,880
E6680 陽極接合装置 アユミ工業 AB-40特注品 12,204
E6690 マスクアライナ ミカサ MA-20 7,452
E6730 研磨機 ムサシノ電子 MA-200 2,592
E6740 酸化拡散装置 KHエレクトロニクス 特別仕様 18,576
E6760 高温小型真空雰囲気炉 ナガノ NEWTONIAN PASCAL40 6,480
E6770 超音波ボールボンダ ウエストボンド 7700A 6,912
E6780 ボンディング装置 日本アビオニクス NA-90 2,160
E6790 チップ付け装置 ウェストボンド 7200A 2,484
E6810 超音波ウェッジボンダ ウェストボンド 7400A 5,400
E6840 ダイシング装置 ディスコ DAD-2H/6T 12,852
E6880 アッシャー装置 東京応化工業 OPM-EM600 12,312
E6950 光干渉式膜厚測定装置 大日本スクリーン VM-8000J 2,916
E6960 超深度形状測定顕微鏡(レーザー顕微鏡) キーエンス VK8500 1,944
E6965 ハイブリッドレーザー顕微鏡 データ解析 レーザーテック OPTELICS HYBRID 972
E6980 焼き付け装置 デルタデザイン(米国) 9023型 864

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分析・評価機器

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料(円) 担当部名
E7020 金属顕微鏡 ニコン X2-T1-NR 540 機械・材料技術部
E7030 ICP発光分析装置 セイコー電子 SPS1200VR 11,016 化学技術部
E7151 デジタルマイクロスコープシステム スカラ(株) DG-3 108 情報・生産技術部
E7160 顕微鏡 オリンパス BHS-RFK-A1 1,728 化学技術部
E7170 分光蛍光光度計 日立 F-4010 4,320
E7230 マイクロフォーカスX線テレビ装置 島津製作所 SMX-160ET 4,212 機械・材料技術部
E7240 X線CTスキャン装置 ユニハイトシステム XVA-160 Noix+Presto 11,880
E7280 透明プラスチック残留応力観察装置 理光研(株) ポラリスコープPS-5 1,512 化学技術部

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環境試験装置

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料(円) 担当部名
E7310 人工気象室 タバイエスぺック TBL-9W4YPX 22,572 化学技術部
E7360 断熱反応装置 コロンビアサイエンティフィック ARC 8,208
E7370 熱流束型熱量計 セタラム C-80 18,684
E7470 簡易半無響室 小野測器 1,512

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木工加工

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料(円) 担当部名
E7720 ツールチェンジNC加工機 平安コーポレーション NC-151MC-1508 1,944 情報・生産技術部
E7730 ルータ 平安鉄工 NC-131P-1008 648
E7740 油圧プレス 小林機械工業 KU-CPP3366 108
E7750 油圧プレス(ホットプレス) セイブ HP-2 216
E7760 マイクロ波加熱装置 新日本無線 NTA-2010 216

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形状測定機器

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料(円) 担当部名
E7810 万能測定顕微鏡 カールツァイス UMM300/100 2,160 情報・生産技術部
E7820 精密表面形状測定装置 東京精密 サーフコム700B サーフライザ2000A 1,512

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測定計測装置

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料(円) 担当部名
E7980 精密変位測定装置 キーエンス LD-2500/LD-2510 540 情報・生産技術部
E8010 薄膜屈折率測定装置 溝尻光学 DHA-XA型 8,640 電子技術部
E8020 位相差測定装置 ニコン NPDM-1000 7,776
E8040 C-V測定装置 YHP 4280A 5,724
E8090 ボロメータ測定システム微小信号測定システム セイコー 5302 4,860
E8150 膜厚計 日本真空技術 Dektak 3030ST 7,560
E8190 マルチフリケンシャルLCRメータ YHP HP4274A/HP4275A 2,808 電子技術部
E8200 絶縁抵抗計 キーサイト・テクノロジー 4339B 3,024
E8220 Qメータ YHP HP4285A 2,916
E8250 分光測色計 ミノルタカメラ CM-1000 432 化学技術部
E8251 光沢計 日本電色工業 VGS-300A 216
E8260 音響インテンシティ測定装置 小野測器 CF6400INT/MOD 9,936 機械・材料技術部
E8261 音質評価システム 小野測器 WS-5160 648
E8262 吸音率測定システム 小野測器 SR-4100 972
E8270 伝導性イミュニティ測定システム ノイズ研究所 ESS-B3011 3,564 電子技術部
E8360 電子回路測定・解析システム用ネットワークアナライザー YHP HP8753C 2,160
E8370 EMI予備測定システム HP EMI簡易測定システム 3,456
E8430 ガウスメータ(最小測定レンジ:2mT、最大測定レ ンジ:2T) ベル 9200型 864
E8431 ガウスメータ(最小測定レンジ:0.35mT、最大測定レンジ:3.5T) Lake shore Inc 455型 1,296
E8470 PCベース計測器 横河電機 WE700システム 648 情報・生産技術部
E8480 レーザ寸法測定器 キーエンス LS-5000 216
E8495 USB2.0バスアナライザ ヒロテック HUSB 200 128MB 540
E8500 ロジックアナライザー 日本テクトロニクス TLA5201 1,512 機械・材料技術部

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温度熱量測定装置

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料(円) 担当部名
E8530 赤外線温度分布測定機 日本バーンズ モデル600L 6,588 化学技術部
E8550 風合い計測システム カトーテック KES-F7サーモラボ(II) 3,132
E8580 プラスチック用熱伝導率計 京都電子工業 QTM-D3型 4,644
E8610 熱機械試験機 マックサイエンス TMA-400 5,508
E8620 赤外線放射計 日本バーンズ SA-200 7,992

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その他の機器

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料(円) 担当部名
E8711 振動試験機 IMV VS-2000A-140T 4,860 機械・材料技術部
E8712 振動試験システム IMV i250/SA5M 5,940
E8713 制振性能測定装置 ブリュエルケアーPULSE/MS-18143型 4,212
E8720 高速冷却遠心機 クボタ 6800 1,728 化学技術部
E8760 流れ特性試験機 東洋精機 PD-C 8,964 機械・材料技術部
E8790 脱脂炉 ネムス MT-400 972
E8810 混練機 森山 DSI-5GHH-E 2,592
E8820 金属粉末射出成形装置 東芝機械 IS30EPN-1A 2,052
E8840 電気炉 炉研工業 マッフル型加熱炉 HI 1,188
E8841 卓上型電気炉   1,080
E8870 ラバープレス(CIP) 日機装 CL4-22-60 2,268
E8910 乾式塗装ブース サンエス工業 DS-CSS-1200 1,728 化学技術部
E8940 超遠心分離機 ベックマン Optima XL90 10,368
E8960 制御雰囲気炉 同和工業 TMA 1,728 機械・材料技術部
E8970 熱間加工再現試験装置 富士電波工機 サーメックマスターZ 11,124
E8975 熱処理再現試験装置 富士電波工機 特注品FTA-153VTほか 8,964
E8980 シリコニット箱型炉 シリコニット高熱工業 SFB-2040 864
E8990 アルゴンアーク溶解炉 大亜真空 ACM-7A 3,564
E8991 真空溶解炉 富士電波工機 FV-5 5,292
E9016 摩耗試験機(研磨紙使用無し) 東洋精機 NO410 GS10付 108 情報・生産技術部
E9040 濃縮機(遠心式濃縮機) タイテック VC-96N 108 化学技術部
E9060 フレンチプレス細胞破砕機 アミンコ FA078 432
E9070 電子顕微鏡用金属薄膜作製装置 丸本ストルアス テヌポール5 324 機械・材料技術部
E9090 電磁界解析装置 独国CST社 MW-Studio Transient Solver 1,728 電子技術部

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設備

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料(円) 担当部名
E9210 製品開発室 実験棟 1・2・4階 80 事業化支援部
E9220 ドラフトチャンバー(製品開発室) 実験棟 1階 230

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ファブラボ

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料(円) 担当部名
E9610 ファブラボ(Ⅰ) 3Dプリンタ使用可、装置類取扱い指導有 3,240 電子技術部
E9620 ファブラボ(Ⅱ) 3Dプリンタ使用可、装置類取扱い指導無 540
E9630 ファブラボ(Ⅲ) 3Dプリンタ使用不可、装置類取扱い指導無 216

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手数料表・使用料表 PDF版

平成31年度 手数料及び使用料表(07月01日改訂)

※ 依頼試験、機器利用は、機器・設備の故障でやむを得ずサービスを停止しているものがありますので、事前にお問い合わせください。

減免について

試験計測(依頼試験)及び機器使用における手数料・使用料の減免について