「試験計測等料金表」平成30年7月17日改定のお知らせ

「試験計測等料金表」が平成30年7月17日(火)から改定されます。

●新規に追加される試験項目は以下の28件です。

手数料

No. 項  目 単  位 手数料 担当部名
E2643 核磁気共鳴(NMR)分析(多核など特殊測定) 1試料,1条件につき 31,428 機械・材料技術部
E2644 核磁気共鳴(NMR)分析(二次元測定) 1試料,1Hおよび13Cの一次元スペクトルおよび相関スペクトル(DQF-COSY, HMQC, HMBC)につき 45,792    〃
E0780 ネットワークアナライザ測定(マルチポート) 1測定につき 9,504 電子技術部
E0791 ネットワークアナライザ測定(4ポートまで) 1試料1条件につき 6,912    〃
E0792 ネットワークアナライザ測定(4ポートまで) 1件増 1条件増すごとに 2,700    〃
E0881 マイクロ波誘電率・透磁率測定(ハーモニック共振器法) 1測定につき 17,280    〃
E1390 小型恒温恒湿槽(SH) 24時間まで 15,444    〃
E1391 小型恒温恒湿槽(SH)・24時間増す毎 24時間増すごとに 6,588    〃
E1392 小型恒温槽 (温度のみ) 24時間まで 12,312    〃
E1393 小型恒温槽 (温度のみ)・24時間増す毎 24時間増すごとに 4,968    〃
E1394 人工気象室(小型) 1時間ごとに 5,076 化学技術部
E1395 人工気象室(大型) 1時間ごとに 7,452    〃
E1396 日射装置 1時間ごとに(人工気象室(大型)の料金に加算) 6,264    〃
E1581 電磁波シールド効果測定 (100kHz~1GHz、KEC法) 1試料1測定(電界または磁界)につき 5,832 電子技術部
E1600 マイクロ波電磁波シールド効果測定 (1GHz~8.5GHz、2焦点型扁平空洞) 1試料1測定につき 6,480    〃
E1650 三次元アンテナ指向性測定 2時間まで 43,308    〃
E1660 三次元アンテナ指向性測定(1時間増) 1時間増すごとに 20,088    〃
E3221 金属・合金の腐食減量測定(1) 1試料につき24時間まで 12,204 化学技術部
E3222 金属・合金の腐食減量測定(2) 24時間増 24時間増すごとに 3,456    〃
E5060 酵素阻害活性測定(1) 1試料につき 5,400    〃
E5061 酵素阻害活性測定(2) 1試料につき 3,888    〃
E5062 抗糖化性測定(蛍光性AGEs生成抑制試験) 1試料につき 11,664    〃
E5091 遊離アミノ酸組成分析 1試料につき 35,856    〃
E5170 凍結乾燥(24時間まで) 24時間まで 5,400    〃
E5171 凍結乾燥(24時間増すごとに) 24時間増すごとに 2,484    〃
K3470 分光放射照度計によるスペクトル測定 1測定につき 9,504 川崎技術支援部

使用料

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料 担当部名
E8713 制振性能測定装置 ブリュエルケアーPULSE/MS-18143型 4,212 機械・材料技術部
E8841 卓上型電気炉   1,080    〃

 

●料金が改定される試験項目は以下の3件です。

No. 項  目 単  位 手数料 担当部名
E2641 核磁気共鳴(NMR)分析 (プロトンのみ) 1試料,1Hの一次元スペクトルにつき 13,068 機械・材料技術部
E2642 核磁気共鳴(NMR)分析 (基本測定) 1試料,1Hおよび13Cの一次元スペクトルにつき 20,736    〃
E5100 タンパク質定量(Bradford法、Lowry法による) 1試料につき 3,348 化学技術部

 

●名称等が変更になる試験項目は以下の3件です。

No. 項  目 単  位 手数料 担当部名
E1982 微小部X線光電子分光分析 (ワイドおよびナロースキャン) 1試料1ヶ所につき (6元素まで) 19,980 機械・材料技術部
E3280 試料調製(1)(比較的容易) №E3210,E3220,E3221, E3222,E3261,E3262, E3270に適用 2,916 化学技術部
E3290 試料調製(2)(比較的複雑) №E3210,E3220,E3221, E3222,E3261,E3262, E3270に適用 5,832    〃

 

●削除される試験項目は以下の16件です。

手数料

No. 項  目 単  位 手数料 担当部名
E0790 ネットワークアナライザ測定 1試料1条件につき 6,588 電子技術部
E0810 ネットワークアナライザ測定 1件増 1条件増すごとに 2,808    〃
E1580 電磁波シールド効果測定 1試料1条件につき 4,860    〃
E1590 電磁波シールド効果測定1件増 1条件増すごとに 2,484    〃
E2890 温度指定(50~200℃) 1試料につき (№E2840に適用) 6,696 化学技術部
E5050 血圧降下作用測定(ACE阻害活性測定) 1試料につき 3,240    〃

使用料

No. 設備機器名 メーカー・型式 使用料 担当部名
E8860 雰囲気調整接合装置 ネムスS50-8X8X8-KW-23 7,020 機械・材料技術部
E6280 クリープフィード研削盤 日立精工GHL-B306 3,888 情報・生産技術部
E8391 放射・伝導電磁界イミュニティ測定システム 東陽テクニカ IEC61000-4-3/ IEC61000-4-6 8,316 電子技術部
E8410 EMI測定システム ㈱テクノサイエンスジャパン特注品 11,232    〃
E7410 BOD自動測定記録装置 電気化学計器DKK-BOD-3型 1,404 化学技術部
E8590 微量融点測定テレビ装置 三田村理研MP-T3 1,188    〃
K2320 EMI測定システムB (伝導性雑音測定のみ) R3172、TPA0118(1時間以内) アドバンテスト R3172、TPA0118(Peak/QP検波のみ) 2,808 川崎技術支援部
K2321 EMI測定システムB (伝導性雑音測定のみ) R3172、TPA0118 (追加30分あたり) アドバンテスト R3172、TPA0118(Peak/QP検波のみ) 864    〃
K2770 簡易放射イミュニティ試験器G-Strip(1時間以内) サーモフィシャー G-strip 4,536    〃
K2771 簡易放射イミュニティ試験器G-Strip(追加30分あたり) サーモフィシャー G-strip 1,944    〃

詳細は担当部にお問い合わせください。