X線光電子分光分析(B) 深さ方向分析

X線光電子分光分析(B) 深さ方向分析、表面局所分析

項目 内容
試験名 X線光電子分光分析(B) 深さ方向分析
手数料No E1870
分類
内容 固体の極表面の元素組成及び化学状態の分析
補足説明
使用機器例 X線光電子分光分析装置
試験対象 固体
備考 1試料につき
担当 機械・材料技術部

  • 「使用機器例」とは当試験のために使用する機器の名称で、クリックすると詳細説明がご覧になれます。
  • 「手数料」とは当研究所職員がお客様のご依頼を受けて試験等を実施する場合の料金です。
  • この他にオーダーメードでもお受けできます。