電子線マイクロアナライザ観測

電子線マイクロアナライザ観測(FE-EPMA:Field Emission Electron Probe Micro Analyzer)、電界放出型電子線マイクロアナライザ、表面局所分析

項目 内容
試験名 電子線マイクロアナライザ観測
手数料No E2541E2551
分類 材料や異物等の材質、成分、元素の分析/対象別分析/無機定性分析、
材料や異物等の材質、成分、元素の分析/機器分析/表面分析等
内容 細く絞った電子線を固体表面に照射することにより、微小領域(10μm~数mm程度)の元素分析ができます。変色や腐食・破壊等の不具合箇所における介在物・析出物・異物等の構成元素を分析します。
補足説明 B(ホウ素)~U(ウラン)までの微小部分析。試料寸法は、φ30mm×10mm以下。試験内容によりNo.2551を加算。
使用機器例 FE-EPMA
試験対象 金属材料、セラミックス材料、他
備考 1試料につき
担当 機械・材料技術部

  • 「使用機器例」とは当試験のために使用する機器の名称で、クリックすると詳細説明がご覧になれます。
  • 「手数料」とは当研究所職員がお客様のご依頼を受けて試験等を実施する場合の料金です。
  • この他にオーダーメードでもお受けできます。