電子線マイクロアナライザ観測 試料調整

 

電子線マイクロアナライザ観測 試料調整(Cross Section Polishing)、クロスセクションポリッシャ、断面試料作製、イオン研磨、IP法、CP法、Arイオン研磨

項目 内容
試験名 電子線マイクロアナライザ観測 試料調整
手数料No E2560
分類 材料や異物等の材質、成分、元素の分析/対象別分析/無機定性分析、材料や異物等の材質、成分、元素の分析/機器分析/表面分析等
内容 イオンビームを用いた断面試料作製
補足説明 クロスセクションポリシャ(Arイオンビーム研磨)による試料加工と観察
使用機器例 FE-EPMA
クロスセクションポリッシャ(日本電子製 SM-09010)
試験対象 金属材料、セラミックス材料、他
備考 1試料につき
担当 機械・材料技術部

  • 「使用機器例」とは当試験のために使用する機器の名称で、クリックすると詳細説明がご覧になれます。
  • 「手数料」とは当研究所職員がお客様のご依頼を受けて試験等を実施する場合の料金です。
  • この他にオーダーメードでもお受けできます。