SEM観察･EDS分析

概要

最新の高性能電子光学系により、金属や半導体、セラミクス、有機物、磁性材料など様々な試料に対し、低倍率から高分解能観察まで行うことができる電子顕微鏡です。
 
　検出器を多数付属していることから組成像、凹凸像など様々な画像を取得することができます。元素分析装置も搭載しており、試料の元素同定や分布など有用な情報も得ることができます。

装置

特長

・ 光学顕微鏡では得られない焦点深度の深い観察が
　 行えます。
・ 80倍から50万倍まで幅広い領域の観察が行えます。
・ 付属のEDS分析装置で試料の組成や分布がわかります。
・ 低真空モードを使用することで、絶縁材料等を無蒸着で
　 観察できます。
・ STEM検出器を用いた透過像の観察が可能です。
・ GBモードを使用すると、極低加速電圧で微細構造を観察
　 することができます。

受託分析料金

装置一覧

立会い観察分析も可能です。

♣　撮影箇所や分析箇所を指定でき、欲しい情報が的確
　　に得られます。
♣　データを受取るだけでは得られない多くの情報を
　　得る事ができます。
♣　画像データはその場でお渡しできます。

応用例とその試料調製法

・ めっきの断面観察＆分析　→　断面作製用イオンミリング装置
・ 高分子材料の観察　→　ウルトラミクロトーム
・ 金属組織観察　→　断面作製用イオンミリング装置
・ ガラス、樹脂の破面観察　→　その他