Auめっき上の極薄いシミの分析

観察例

極薄いシミの分析ができます。

使用機器

X線光電子分光分析装置(XPS)

PE・PP不織布

測定例

・ワイドスキャンによる元素分析および簡易定量

分析データ

定性定量結果

正常部分とシミ部分との比較分析を行うことでシミ部分の成分がわかります。
シミ部分ではシリコンが検出されました。

納期予定

試料お預かりから概ね1週間程度で結果のご報告をいたします。
お急ぎの場合はご相談下さい。

利用料金項目

項目 単位 数量
X線光電子分光分析
(µ-XPS・µ-ESCA)

表面分析

1試料1ヶ所につき(ワイドスキャンのみ)
追加1試料1ヶ所につき(ワイドスキャンのみ)
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川崎技術支援部
TEL:044-819-2105 FAX:044-819-2108

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